CHIP SHINE ELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD
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Hast试验测试系统Hast试验测试系统
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规格参数:
Pitch:           0.4mm
电压:           100V d.c
电流:           2A
介质耐电压:1000V a.c
接触电阻:    60mΩ(AVG)
绝缘电阻:    ≥5000MΩ
寿命:           5000小时
工作温度:    -55~150℃
塑料件材质:陶瓷PEEK
探针材质:    Pd Alloy、BeCu



特点:

1.旋钮压盖式设计供手工或自动载卸芯片
2.可凭视觉准确地装载芯片
3.可靠性高,探针预先加载
4.测试温度范围-55~150℃
5.盖板上有窗口,提供较大气流



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